| レーザワイヤーストリッパー モデル:WIRE MASTER series ケーブルの芯線にダメージを与えず樹脂被覆のみをストリップ致します。また、特殊な光学系でワイヤーの円周上全てにレーザ光を照射し、均一なストリップを行います。 |
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| 半導体デバイス不良解析用レーザ加工装置 モデル:F/A LIT 本装置はレーザによるパッケージ開封をベースとしたレーザ加工装置です。従来の開封方法とは異なり、加工形状・加工位置設定が容易に行え、加工中も観察可能です。 開封とは異なるレーザを搭載する事により(オプション)、断面観察の為のデバイス切断や基板からデバイスを取り出す為の基板切断、金属キャップの開封等が可能になります。 | ![]() |
| 半導体デバイス不良解析用パッケージ開封装置 モデル:ULTRA LIT 本装置はレーザによるパッケージ開封装置(パッケージオープナー)です。従来の開封方法とは異なり、加工形状・加工位置設定が容易に行え、加工中も観察可能です。 パワーデバイス、Cuワイヤー、BGA等の開封に適しています。 | ![]() |